教員総覧 - 小野田　穣

■ 学歴

1.	2003/04～2007/03	九州大学理学部物理学科卒業学士
2.	2007/04～2009/03	九州大学大学院総合理工学府物質理工学専攻修士課程修了修士
3.	2009/04～2012/03	九州大学大学院総合理工学府物質理工学専攻博士課程修了博士（理学）

■ 専門分野

1.	表面物理学
2.	ナノ物理学

■ 教育・研究紹介

専門分野は、表面物理学、または、ナノ物理学です。物質表面の原子を一つずつ観察することができる走査プローブ顕微鏡（SPM）を用いて、原子スケールでの物理・化学的現象の解明や、ナノスケールでの表面電気伝導に関する研究を行っています。

■ 最近の研究課題・キーワード

薄膜、表面界面物性, ナノ構造物理　（キーワード：走査プローブ顕微鏡、走査トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、半導体、二次元物質）

■ 著書・論文歴

1.	論文	研究者兼大学教員となって表面と真空 66(10),601-601頁（単著） 2023/10
2.	論文	2探針走査トンネル顕微鏡による半導体表面の電気伝導測定顕微鏡 58(2),76-79頁（単著） 2023/08
3.	論文	Ohmic contact to two-dimensional nanofabricated silicon structures with a two-probe scanning tunneling microscope ACS Nano 15(12),19377-19386頁（共著） 2021/11
4.	論文	原子間力顕微鏡探針の先端原子の元素識別 64(7),324-328頁（共著） 2021/07
5.	論文	In-situ reproducible sharp tips for atomic force microscopy Physical Review Applied 15,pp.034079 （共著） 2021/03
6.	論文	Consistent probe spacing in multiple-probe STM experiments AIP Advances 10,pp.105213 （共著） 2020/10
7.	論文	Chemical identification of the foremost tip atom in atomic force microscopy Nano Letters 20,pp.2000-2004 （共著） 2020/02
8.	論文	Force spectroscopy using a quartz length-extension resonator Applied Physics Letters 115,pp.173104 （共著） 2019/10
9.	論文	Less-ordered structures of silicene on Ag(111) surface revealed by atomic force microscopy Physical Review Materials 3,pp.104002 （共著） 2019/10
10.	論文	Charging of electron beam irradiated amorphous carbon thin films at liquid nitrogen temperature Ultramicroscopy 196,pp.161-166 （共著） 2019/01
11.	論文	Structural identification of silicene on the Ag(111) surface by atomic force microscopy Physical Review B 98,pp.195311 （共著） 2018/11
12.	論文	単原子の電気陰性度の計測 87(9),674-677頁（共著） 2018/09
13.	論文	High-resolution imaging of silicene on an Ag(111) surface by atomic force microscopy Physical Review B 96,pp.241302(R) （共著） 2017/12
14.	論文	原子間力顕微鏡による二酸化チタン表面の研究 38(8),413-418頁（共著） 2017/08
15.	論文	原子間力顕微鏡による単原子の電気陰性度の決定 38(7),341-346頁（共著） 2017/07
16.	論文	The local electronic properties of individual Pt atoms adsorbed on TiO2(110) studied by Kelvin probe force microscopy and first-principles simulations Nanoscale 9,pp.5812-5821 （共著） 2017/05
17.	論文	Electronegativity determination of individual surface atoms by atomic force microscopy Nature Communications 8,pp.15155 （共著） 2017/04
18.	論文	非接触原子間力顕微鏡によるSiとGe原子の識別表面科学 37(7),304-309頁（共著） 2016/07
19.	論文	Effects of Pb intercalation on the structural and electronic properties of epitaxial graphene on SiC Small 12,pp.3956-3966 （共著） 2016/06
20.	論文	Imaging the TiO2(011)-(2×1) surface using noncontact atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy The Journal of Physical Chemistry C 120,pp.3390-3395 （共著） 2016/01
21.	論文	Identification of Si and Ge atoms by atomic force microscopy Physical Review B 92,pp.155309 （共著） 2015/10
22.	論文	Pt atoms adsorbed on TiO2(110)-(1×1) studied with noncontact atomic force microscopy and first principles simulations Physical Review B 91,pp.075401 （共著） 2015/02
23.	論文	(2n×1) reconstructions of TiO2(011) revealed by noncontact atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy The Journal of Physical Chemistry C 118,pp.23168-23174 （共著） 2014/09
24.	論文	Subsurface charge repulsion of adsorbed H-adatoms on TiO2(110) The Journal of Physical Chemistry C 118,pp.13674-13679 （共著） 2014/05
25.	論文	Initial and secondary oxidation products on the Si(111)-(7×7) surface identified by atomic force microscopy and first principles calculations Applied Physics Letters 104,pp.133107 （共著） 2014/04
26.	論文	Development of LEED apparatus using nano-tips fabricated by field-assisted etching e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 257,pp.8427-8432 （共著） 2012/06
27.	論文	Fabrication of <110> oriented tungsten nano-tips by field-assisted water etching Applied Surface Science 257,pp.8427-8432 （共著） 2011/08
28.	論文	STEM observation of tungsten tips sharpened by field-assisted oxygen etching Surface Science 604,pp.1094-1099 （共著） 2010/07
29.	論文	Field emission from W tips sharpened by field-assisted nitrogen and oxygen etching e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 6,pp.152-156 （共著） 2008/06
30.	論文	Field-assisted oxygen etching for sharp field-emission tip Surface Science 602,pp.2128-2134 （共著） 2008/06
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■ 学会発表

1.	2024/03/04	Atomic-Level Patterning of Si(111) Surface using STM Lithography（NanospecFY2023）
2.	2023/09/22	2探針STMによる水素終端Si表面上での少数キャリア注入の効果（第84回応用物理学会秋季学術講演会）
3.	2023/06/11	2探針STMによる水素終端Si表面上での少数キャリア注入（2023年度日本表面真空学会九州支部学術講演会（九州表面・真空研究会2023））
4.	2023/03/17	2探針STMによるSi表面の電気伝導測定（第70回応用物理学会春季学術講演会）
5.	2022/11/10	2探針STMにおけるOhmic接合の形成とSi表面ナノ領域の電気伝導測定（第5回日本表面真空学会若手部会研究会（合同開催：放射光学会若手育志研究会））
6.	2022/06/11	2探針 STM による Si 表⾯ナノ領域の電気伝導測定（2022 年度⽇本表⾯真空学会九州⽀部学術講演会（九州表⾯・真空研究会 2022）「新奇な薄膜・表⾯現象とその応⽤の最前線」）
7.	2022/01/14	AFMによる表面化学分析と多探針STMによる表面電気伝導測定（招待講演）（ナノプローブテクノロジー第167委員会　第100回研究会）
8.	2022/01/10	Surface states conduction measurements by two-probe scanning tunneling microscopy with Ohmic contact（招待講演）（Department Online Seminar Series (Fritz Haber Institute)）
9.	2021/09/10	電気化学反応による原子間力顕微鏡の探針再生（第82回応用物理学会秋季学術講演会）
10.	2021/09/08	走査プローブ顕微鏡による原子スケールの化学分析と電気伝導測定（招待講演）（日本物理学会北陸支部特別講演会）
11.	2021/09/03	Scanning probe microscopy for surface chemical analysis and electrical conduction measurements（招待講演）（SISL Seminar Series (RIKEN)）
12.	2021/06/28	Surface Conduction of Silicon Surfaces Measured by Two-probe Scanning Tunneling Microscopy with Ohmic Contact（2021 International Scanning Probe Microscopy (ISPM) + Scanning Probe Microscopy on Soft & Polymeric Materials (SPMonSPM) = I(SPM)^3）
13.	2021/04/03	原子間力顕微鏡による表面構造解析と単原子スケール元素分析（招待講演）（日本表面真空学会　令和3年度(2021年度)関東支部講演大会）
14.	2021/03/26	原子間力顕微鏡によるシリセンの高分解能観察（招待講演）（日本表面真空学会九州支部セミナー）
15.	2020/11/17	原子間力顕微鏡によるPaulingの化学結合論の検証（2020年日本表面真空学会学術講演会）
16.	2020/09/08	原子間力顕微鏡によるAg(111)上シリセンのT相の構造解析（第81回応用物理学会秋季学術講演会）
17.	2020/09/08	原子間力顕微鏡によるPaulingの化学結合論（第81回応用物理学会秋季学術講演会）
18.	2019/10/28	Structural identification of silicene T phase on Ag(111) by atomic force microscopy（2019年日本表面真空学会学術講演会）
19.	2019/10/28	長辺振動水晶子を用いたフォーススペクトロスコピー（2019年日本表面真空学会学術講演会）
20.	2018/11/19	原子間力顕微鏡を用いたAg(111)上のシリセン(√13×√13)R13.9°相の構造解析（2018年日本表面真空学会学術講演会）
21.	2018/03/22	AFM探針先端の元素識別（日本物理学会第73回年次大会）
22.	2018/03/22	Ag(111)表面上のシリセンの高分解能AFMイメージング（日本物理学会第73回年次大会）
23.	2018/03/22	原子間力顕微鏡による表面原子の電気陰性度測定（日本物理学会第73回年次大会）
24.	2018/03/22	第一原理計算による原子間力顕微鏡の探針とシリセン表面の原子間の化学結合力評価（日本物理学会第73回年次大会）
25.	2017/08/17	AFM探針の先端原子の元素同定（2017年真空・表面科学合同講演会（第37回表面科学学術講演会、第58回真空に関する連合講演会））
26.	2017/08/17	Ag(111)表面上に形成したシリセンのAFM/STM計測（2017年真空・表面科学合同講演会（第37回表面科学学術講演会、第58回真空に関する連合講演会））
27.	2017/03/14	Al蒸着Si(111)-(7×7)上のフォーススぺクトロスコピー（第64回応用物理学会春季学術講演会）
28.	2017/03/14	原子間力顕微鏡による単原子の元素識別（第64回応用物理学会春季学術講演会）
29.	2016/12/14	Characterization of TiO₂(011)-(2×1) Surface by AFM and STM（24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy, Hawaii Convention Center）
30.	2016/12/14	Chemical Identification of Individual Surface Atoms by AFM（24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy）
31.	2016/12/14	Electronegativity of Individual Surface Atoms Determined by AFM（24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy）
32.	2016/11/29	AFM/STMによるTiO2(011)表面の解析（2016年真空・表面科学合同講演会（第36回表面科学学術講演会、第57回真空に関する連合講演会））
33.	2016/11/29	原子間力顕微鏡による単一原子の電気陰性度の決定（2016年真空・表面科学合同講演会（第36回表面科学学術講演会、第57回真空に関する連合講演会））
34.	2016/11/29	非接触原子間力顕微鏡によるAlナノクラスターの研究（2016年真空・表面科学合同講演会（第36回表面科学学術講演会、第57回真空に関する連合講演会））
35.	2016/09/13	TiO2(011)-(2×1)表面のAFM/STMによる研究（第77回応用物理学会秋季学術講会）
36.	2016/09/13	原子間力顕微鏡による単一原子の電気陰性度測定（第77回応用物理学会秋季学術講演会）
37.	2016/09/13	非接触原子間力顕微鏡によるAlナノクラスターの研究（第77回応用物理学会秋季学術講演会）
38.	2016/08/21	Electronegativity of Single Atoms Determined by Atomic Force Microscopy（20th International Vacuum Congress, Busan Exhibition Convention Center）
39.	2016/07/25	Electronegativity of Individual Surface Atoms Determined by AFM（19th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
40.	2016/07/25	TiO₂(011)-(2×1) Surface Characterized by Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy（19th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
41.	2016/03/19	TiO2(110)表面上の帯電領域のNC-AFM/KPFM観察（春季　第63回応用物理学関係連合講演会）
42.	2016/03/19	非接触原子間力顕微鏡を用いたSiとGe原子の識別
43.	2015/12/01	NC-AFM/KPFMを用いたTiO2(110)表面上の帯電領域の観察（2015年真空・表面科学合同公演会　第35回表面科学学術講演会　第56回真空に関する連合講演会）
44.	2015/12/01	SiGe混晶表面での非接触原子間力顕微鏡による元素識別（2015年真空・表面科学合同公演会　第35回表面科学学術講演会　第56回真空に関する連合講演会）
45.	2015/11/23	AFMによる原子レベル元素識別と分子構造イメージング（招待講演）（日本顕微鏡学会　様々な極微イメージング技術若手研究部会　第３回研究会「表面の様々な極微イメージング」）
46.	2015/10/25	Identification of Individual Si and Ge Atoms by AFM（10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ‘15）
47.	2015/09/25	原子間力顕微鏡を用いたGe/Si混在表面での元素識別（日本物理学会　2015年秋季大会）
48.	2015/09/07	Chemical identification on the Si-Ge intermixed surfaces by AFM（18th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
49.	2015/09/07	Exclusion of H atoms at the subsurface charged regions of TiO2(110)（18th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
50.	2015/07/14	(2n×1) Reconstructions of TiO2(011) Elucidated by AFM and STM（NIMS Conference 2015）
51.	2015/07/14	Chemical identification of Si and Ge atoms by AFM force spectroscopy（NIMS Conference 2015）
52.	2014/12/11	Atomic Force Microscopy Study of Initial and Secondary Oxidation Stages of the Si(111)-(7×7) surface（22nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy）
53.	2014/12/11	Reconstructions of TiO2(011) Revealed by Noncontact Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy（22nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy）
54.	2014/11/25	原子間力顕微鏡による酸素吸着Si(111)-(7×7)表面の研究（日本化学会　分子アーキテクトニクス研究会　第5回研究会）
55.	2014/11/02	Non-contact atomic force microscopy study of initial and secondary oxidation products on the Si(111)-(7×7) surface（The 7th International Symposium on Surface Science）
56.	2014/08/08	AFM study of initial and secondary oxidation products on the Si(111)-(7×7) surface（17th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
57.	2014/08/04	(n×1) Reconstructions of TiO2(011) Revealed by Noncontact Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy（17th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
58.	2013/11/04	Chemical Identification of Single Atoms with Partially Ionic Covalent Character（12th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures in conjunction with 21st International Colloquium on Scanning Probe Microscopy）
59.	2013/08/05	A combined NC-AFM and DFT study of Pt atoms adsorbed on TiO2(110)（16th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
60.	2013/08/05	AFM Study on the Initial Oxidation Process of Si(111)-(7×7) Surface（16th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
61.	2013/08/05	Specific Site Force Spectroscopy: Fingerprint for Bond Character（16th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy）
62.	2012/12/17	Non-contact Atomic Force Microscopy Study of Oxygen-adsorbed Si(111)-(7×7) Surface at Room Temperature（The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy）
63.	2011/12/11	Fabrication of Spatially Coherent Field Emission Tip by Field-assisted Etching and its Application to Submicron-order LEED（The 6th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology）
64.	2011/11/26	電界放出微小電子源を用いた低速電子回折パターンの観察（平成23年度応用物理学会九州支部学術講演会）
65.	2011/11/23	Fabrication of atomically sharp Pt nano-tip by field-assisted etching（The 13th Cross Straits Symposium on Materials, Energy and Environmental Engineering）
66.	2011/09/21	電界誘起エッチングによるPtナノ探針の作製と先端構造の評価（日本物理学会2011年秋季大会）
67.	2011/09/21	電界誘起水エッチングによる電界放出電子源の先鋭化および低速電子回折パターンの観察（日本物理学会2011年秋季大会）
68.	2011/08/01	Sub-micron Order LEED Observation with Lens-less Field Emission Gun（10th International Conference on the Structure of Surfaces (ICSOC-10) & e-conference (e-ICSOS-10)）
69.	2011/06/11	電界誘起ガスエッチングによるナノ探針の作製と微小領域低速電子回折への応用（九州表面・真空研究会2011（兼　第16回九州薄膜表面研究会））
70.	2011/03/24	電界誘起エッチングにより先鋭化した電界放出電子源による微小領域型低速電子回折（2011年春季第58回応用物理学関係連合講演会）
71.	2010/11/17	Atomically sharp field-emission tip sharpened by field-assisted H2O etching（The 12th Cross Straits Symposium on Materials）
72.	2010/09/23	電界誘起水エッチングにより先鋭化したタングステン電子源の研究（日本物理学会2010年秋季大会）
73.	2010/09/14	電界誘起水エッチングにより作製したタングステン微小電子源（2010年秋季第71回応用物理学会学術講演会）
74.	2010/06/12	電界誘起ガスエッチングにより先鋭化した針の形状評価（九州表面・真空研究会2010（兼　第15回九州薄膜表面研究会）
75.	2010/03/17	電界誘起エッチングにより先鋭化した数nmオーダーの針先端部（2010年春季第57回応用物理学関係連合講演会）
76.	2009/12/06	Atomically Sharp Tip Fabricated by Field-assisted Etching（7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ‘09）
77.	2009/09/25	電界誘起エッチングにより先鋭化したナノ探針（日本物理学会第64回年次大会）
78.	2008/11/09	Evaluation of field-emission W tip fabricated by field-assisted etching（The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology）
79.	2008/06/21	電界誘起エッチングによる先鋭化法を用いた電子線源の電界放出特性の研究（平成20年度応用物理学会九州支部と薄膜・表面物理分科会共催による研究会（兼　第13回九州薄膜表面研究会））
80.	2008/03/22	タングステン針先構造の電界イオン顕微鏡と電流-電圧特性による評価（日本物理学会第63回年次大会）
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■ 受賞学術賞

1.	2022/03	日本物理学会第16回（2022年）日本物理学会若手奨励賞 (原子間力顕微鏡による単原子スケール元素識別と構造解析の研究)
2.	2020/11	日本表面真空学会講演奨励賞（若手研究者部門）、2020年日本表面真空学会学術講演会 (原子間力顕微鏡を用いた Paulingの化学結合論の検証)
3.	2017/03	応用物理学会第42回（2017年春季）応用物理学会講演奨励賞、第64回応用物理学会春季学術講会 (原子間力顕微鏡による単原子の元素識別)
4.	2016/12	24h International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24) ICSPM Poster Award (Chemical Identification of Individual Surface Atoms by AFM)
5.	2016/11	日本表面学会講演奨励賞（新進研究者部門）、第36回表面科学学術講演会 (原子間力顕微鏡による単一原子の電気陰性度の決定)
6.	2010/11	The 12th Cross Straits Symposium on Materials, Energy and Environmental Engineering (CSS12) Outstanding Paper Award (Atomically sharp field-emission tip sharpened by field-assisted H2O etching)
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■ researchmap

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■ 所属学会

1.	2009/12～	応用物理学会
2.	2023/05～	∟ 大分類6 薄膜・表面 6.6 プローブ顕微鏡プログラム委員
3.	2008/01～	日本物理学会
4.	2024/04～	∟ 領域9 運営委員
5.	2007/08～	日本表面真空学会
6.	2024/04～	∟ 九州支部役員企画（研究会担当）
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■ 授業科目

1.	物理学実験I
2.	物理学実験II
3.	物理学実験III
4.	現代物理学
5.	熱・統計力学演習
6.	コンピュータ物理学特別演習
7.	理科教材開発研究
8.	理科観察・実験指導
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■ 卒業研究・修士論文等指導実績

1.	2024 教材開発に向けたArduinoによる振動実験

■ 出前授業実績

1.	2023 キャリアアップ講座「ARDUINOとセンサー技術を使った物理学実験の新たな可能性」